环境条件对电子元件、设备和系统的功能和可靠性有很大影响。为了在最短的时间内发现潜在的缺点，常规的温度试验往往是不够的，测试样品必须经受多次突然的温度变化。

借助于我们的 ShockEvent 系列设备，可以实现从 -80 °C 到 +220 °C 的极快温度变化。为此，我们提供的解决方案有：具有静态试验空间的阻尼热冲击试验箱，包括用于三区试验的环境温度，或配装移动吊笼的经典垂直热冲击试验箱。这样就可以减少早期故障，提高产品的可靠性。
可重复性、认证性和时效性。